光応用計測・検査装置 関連製品
光計測検査システム製品 ヘッドライン
当社の光計測用光学系とソフトウエア・画像処理・精密位置決めステージ・光計測器を組合せた光計測・検査システムの製品ラインナップです。
当社製光計測用光学系 M-Scopeシリーズと各種検出器・データ解析モジュールの組合せによるさまざまな種類の光ビーム計測解析装置をラインナップしました。また、車載用光エレクトロニクスやレーザ照明、生体認証、医療用等の分野で需要が高まっている1～10W出力クラスハイパワーレーザ用光ビームプロファイル計測装置が新たな製品群に加わりました。
専用用途光計測システムとしては、ポリマー光配線導波路の光導通やコア形状・コアピッチ等の量産検査が可能な光テスター/光配線板高速導通検査装置をはじめ、光半導体デバイス・光モジュール・シリコンフォトニクス等の分野をターゲットとしたユニークなシステム製品群を取り揃えております。
その他、当社の光計測光学系・精密位置決めステージ・画像処理技術を駆使したさまざまな特注対応装置も提供が可能です。
光計測検査システム製品 NEWS&TOPICS
| 【NEW】 2023/10/12 |
【新製品】光導波路光学特性測定装置 光導波路の挿入損失や出射端のNFP・FFP・偏光消光比などの光学特性の自動測定に対応する光導波路光学特性測定装置をリリースしました。弊社独自の光学系方式画像調芯・ピークサーチ連動方式自動調芯機能に加えて、弊社製光ビーム解析ソフトウエアとの連動による光導波路の光学的諸特性の自動計測が可能です。 |
光導波路光学特性測定装置 |
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2022/3/1 |
【新製品】ワイドエリア拡張型FFP計測装置 大面積発光素子に対応するワイドエリア拡張型FFP計測装置をリリースしました。計測対象光束径約4.24mmφ、大型発光サイズの発光素子計測に対応したワイドエリア拡張型FFP光学系 M-Scope type FSWを使用、画像処理方式によるリアルタイムFFP計測が可能です。 |
ワイドエリア拡張型FFP計測装置 |
| 2020/7/1 | 測光モジュール IVL測定モジュール・偏光測定モジュール 各種発光素子の発光パラメータ計測用測光モジュール製品として、発光素子のIVL特性測定用のIVL測定モジュール PMD002/IVL・偏光消光比測定用の偏光測定モジュール PMD002/POLの2機種を発売致しました。当社システム製品との組合せ使用の他、単体での使用も可能です。 |
IVL測定モジュール 偏光測定モジュール |
| 2020/7/1 | ウエハレベル発光素子光学特性測定装置 VCSEL等発光デバイスのウエハレベル発光特性測定・解析を目的としたウエハレベル発光素子光学特性測定装置を発売致しました。マニュアルプローバやセミオートプローバとの組合せ・連動により、VCSELの各種発光パラメータをウエハレベルで解析可能です。 |
ウエハレベル発光素子光学特性測定装置 |
| 規格 | エンサークルドフラックス・アンギュラーフラックス計測法 国際規格化に関する情報 ＊エンサークルドフラックス計測法 IEC61280-1-4 ＊エンサークルドアンギュラーフラックス計測法 IEC61300-3-53 |
EF/EAF測定装置 |
光計測検査システム製品 製品ラインナップと概要
汎用光ビームプロファイル計測システム
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光ビームNFP計測装置 | NFP測定光学系と画像処理方式による汎用型光ビームプロファイル計測装置。光デバイス・光モジュール・光コンポーネントデバイスのNFP計測・発光パターン計測に最適。 |
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FFP計測装置 | FFP光学系と画像処理方式によるリアルタイム放射角度分布（FFP:ファーフィールドパターン）計測装置。光ファイバや光デバイスのFFP測定やN.A.計測に最適。 |
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ワイドエリア型FFP計測装置 | 計測対象光束径約3mmφワイドエリア型FFP光学系と画像処理方式によるリアルタイム放射角度分布（FFP:ファーフィールドパターン）計測装置。大面積発光素子のFFP測定に最適。 |
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【New Product】 ワイドエリア拡張型FFP計測装置 |
計測対象光束径約4.24mmφ、計測角度範囲±45°のワイドエリア拡張型FFP光学系と画像処理方式によるリアルタイム放射角度分布（FFP:ファーフィールドパターン）計測装置。大面積発光素子のFFP測定に最適。 |
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赤外高分解能FFP計測装置 | 1310-1550nm光通信波長帯用高分解能FFP計測システム。VGA型InGaAs近赤外検出器ISA041VHとの組合せにより、角度画素分解能0.1°の高分解能FFP計測を実現。 |
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エンサークルドフラックス計測装置 エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置 |
マルチモード光ファイバのモード伝播パラメータを光学系＋画像処理により高速に解析。NFP計測光学系との組合せによるEF測定、FFP計測光学系との組合せによるEAF測定に対応。 |
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コリメート光計測装置 | コリメート光の平行度を高分解能で計測。コリメートビーム観察の他、コリメータモジュールの品質評価、コリメートレンズの調整等に応用が可能。 |
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NFP/FFP同時計測装置 |
NFP計測とFFP計測/コリメート光計測を同一筐体で実現。バタフライモジュールのレンズ位置調整に最適。 |
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光ビーム解析モジュール AP013 |
各種発光デバイスのビーム計測や、NFP/FFP/EF/EAF等の発光パラメータ計測解析用画像処理システム。解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・カメラドライバ・各種補正データのセット。 |
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出力~10Wクラス高出力レーザ計測対応光ビームプロファイル計測装置
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高出力レーザ用光ビームNFP計測装置 | ～10Wクラス高出力レーザ計測対応のNFP計測・光ビームプロファイル計測・発光パターン計測解析システム。 |
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高出力レーザ用高機能光ビームNFP計測装置 |
～10Wクラス高出力レーザ対応の高機能NFP計測・光ビームプロファイル計測・発光パターン観察システム。対物レンズ後段に2段ビームサンプラーを設置。対物レンズ倍率の選択が可能。 |
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高出力レーザ用FFP計測装置 |
～10Wクラス高出力レーザ対応のFFP計測システム。専用のハイパワー対応FFP計測光学系と2段ビームサンプラーにより高出力レーザのFFPを高精度測定。 |
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青色高出力レーザ用NFP/FFP同時計測装置 | ～10Wクラス青色高出力レーザ対応のNFP/FFP同時計測システム。単一の光学系を使用して青色高出力レーザのNFP/FFPを同時に計測可能。 |
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専用用途光計測検査システム
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光テスター/光配線導波路高速導通検査装置 | 多チャンネルポリマー光配線導波路の導通を高速・高精度に測定。ポリマー光配線導波路の量産検査に対応した高速導通検査装置。 |
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個片サンプルローダ機能付光テスター/光配線導波路高速導通検査装置 | ポリマー光導波路個片サンプルの自動ローダ・アンローダを搭載した光配線高速導通検査装置。個片サンプルのサンプル給排を自動化し、量産検査を可能に。 |
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光学系方式 光導波路挿入損失測定装置 |
光照射・受光計測光学系により、被測定導波路の入射・出射端面を画像観察により位置合わせしながら、測定光を直接コアに入射・受光、光導波路の挿入損失を簡単迅速に測定可能。 |
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Siフォトニクス導波路・近接光学素子等サブミクロンの構造・コア径を持つ光導波路の損失を高速・高精度測定。光照射・受光計測光学系と画像処理・電動ステージ制御により、量産検査にも対応可能。 |
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光導波路の挿入損失・NFP・FFP・偏光消光比の諸光学特性を自動・半自動測定。独自の光学系方式画像調芯・ピークサーチ調芯連動の自動調芯による損失測定。さらに各調芯位置でのNFP・FFP・偏光消光比を測定。 |
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プローバ搭載型 ウエハレベル受光素子光学特性測定装置 |
マニュアル・セミオートプローバとの組み合わせにより、フォトダイオード・受光センサ等受光素子の各種光学特性をウエハレベルで測定解析可能。 |
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プローバ搭載型 ウエハレベル発光素子光学特性測定装置 |
マニュアル・セミオートプローバとの組み合わせにより、VCSEL等発光素子の各種光学特性をウエハレベルで測定解析可能。 |
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焦点位置計測装置 | マイクロレンズやLDモジュール・ファイバモジュール等の焦点位置・ビームウエストを専用ソフトウエアにより自動計測。 |
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測光モジュール
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【新製品】 IVL計測モジュール PMD002/IVL |
半導体レーザ素子等のIVL特性を簡単に測定可能な測光モジュール。大面積Siフォトダイオードを使用、広いN.A.をカバー。 |
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【新製品】 偏光計測モジュール PMD002/POL |
空間偏光子回転方式の偏光消光比測定モジュール。空間光測定にも対応。各種光ファイバやLDの他、プローバと組み合わせたVCSELのウエハレベル測定にも対応可能。 |
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