光計測用光学機器と光計測システムのシナジーオプトシステムズ

カタログ用語の解説 【光学系関連用語】

NFP NFPとはニアフィールドパターン(Near Field Pattern)の略語で、近視野像ともよばれる。光ファイバやレーザダイオードなど発光素子において、出射端面でのスポット光強度の面分布。シングルモードファイバのMFD測定や、GIマルチモードファイバの励振状態の評価、発光素子の発光点サイズ測定等の目的でNFPの観察が行われる。
FFP FFPとはファーフィールドパターン(Far Field Pattern)の略語で、遠視野像とも呼ばれる。光ファイバやLDなど発光素子からの出射光の、出射端面から十分離れた場所での強度(角度)分布。シングルモードファイバや発光素子の出射光拡がり角測定やSIマルチモードファイバの励振状態の評価等でFFPの観察が行われる。また、以前は通信帯波長(1.31/1.55µm)で高精度の2次元撮像素子の入手が困難であったため、通信帯SMFのMFD測定はFFP測定データより算出する方法が規格化されている。
f-θレンズ ある角度θでの入射光の結像位置の像高がf×θとなるように設計されたレンズ。等距離射影になるような樽型の歪曲収差を持っている。角度変化量に対する結像位置変化量がリニアな関係となるため、FFP計測用レンズやレーザ描画装置のレンズなどに使用される。
対物レンズによるFFP測定 当社製の光学系(M-Scope Type D)は、NFPとFFPを同時に測定が可能。この光学系ではf-θレンズに換えて、対物レンズを使用してFFPの測定を行っている。但し、対物レンズを使用していることで視野の周辺部ではf-θ特性からずれが生じるため、若干の測定精度低下がある。
ビームサンプラ― 光学ガラスや結晶基板などの表面反射を利用して少量の光を反射させ、モニター用などの光サンプリングを行うための素子。 平行平板またはウェッジ板タイプがあり、ウェッジタイプでは裏面の反射による影響を防ぐことが可能。当社では、基板表面反射の利用ではなく、誘電体多層膜ミラーを使用して少量の光を透過させる方式のビームサンプラーがある。
ビームダンパー 高出力レーザビームなどを安全に遮断する光学装置でビームブロックやビームトラップとも呼ばれる。内部の構造や吸収特性をもつ素材を使用し、レーザ光を吸収し熱に変換することにより光ビームを終端する。当社では、ハイパワー光のビームプロファイル解析時にサンプリング光以外の不要となった光を終端させるために使用している。
N.A. numerical apertureの略。開口数と呼ばれる。
●レンズの場合
レンズの開口数 N.A. は、物体から対物レンズに入射する光線の光軸に対する最大角度を θmax、物体と対物レンズの間の媒質の屈折率をn(レンズの屈折率ではないので注意)として、次の式で表される。
●光ファイバの場合
光ファイバの開口数N.A.は、光がコア内で全反射する限界の入射角度を最大受光角 θmaxのとき次式で与えられる。(出射側の屈折率が1の場合。) この範囲以外の角度から入射した光は光ファイバ中を伝搬できない。
W.D. Working distanceの略。作動距離と呼ばれる。レンズ先端から被写体までの距離。