光計測用光学機器と光計測システムのシナジーオプトシステムズ

装置の概要 FFP(ファーフィールドパターン)計測装置

ハイパワーレーザ用FFP(ファーフィールドパターン)計測装置は、1~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布(ファーフィールドパターン)を高精度で迅速に測定する装置です。

専用設計のハイパワーレーザ対応FFP計測光学系 M-Scope type HFと2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布(FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。計測対象光束径を約3mmφまで拡大、大発光面積のレーザ素子や大口径ファイバ等の半導体レーザ等のFFP計測・出射N.A.計測に対応できます。

当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、エンサークルドアンギュラーフラックス解析等の光パワー分布解析にも応用可能です。

特長

  • 出力1~10Wクラスハイパワーレーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HFを使用
    • 専用2段ビームサンプラーを搭載。高出力レーザを計測に適した光量まで減衰。
    • ハイパワー計測用f-θレンズ光学系+画像処理解析方式。測定も迅速で調整も容易。
    • 測定対象光束径約3mmφ。広い発光面積のサンプルをカバーするワイドエリア設計。
    • ワーキングディスタンス約4mmの長作動距離設計。
  • 光検出器は1インチ高精度CMOS検出器 ISA061を使用(専用)
  • 解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013
    • オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
    • 光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard
    • 当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。光パワー分布解析にも対応。

応用

  • 高出力レーザ・高出力レーザモジュールの放射角度分布(FFP)計測・解析
    • LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発
    • レーザプロジェクタや照明用途光モジュールの開発
    • 生体認証用レーザモジュールの開発
    • その他、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析

コンポーネントセレクションと装置構成例

装置のブロックダイアグラム

装置の主な構成品

オプション

  • 35φへ減光フィルタ(NDフィルタ)
    • 850/940nm帯用:NDF NIR35-5
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
      • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。

関連装置の情報

追加情報

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