光応用計測・検査装置 出力~10Wクラス高出力レーザ計測対応光ビームプロファイル計測装置
高出力レーザ用FFP計測装置
製品の概要
高出力レーザ用FFP計測装置
高出力レーザ用FFP（ファーフィールドパターン）計測装置は、出力～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。
光学系は、専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HFを使用します。サンプルより出射された光束は、2段のビームサンプラーにより減光、さらに後段の減光フィルタにより減光され、適正な光量に減衰されたFFP像を画像検出器に結像、画像処理解析を行います。2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布（FFP:ファーフィールドパターン）をリアルタイムで取得・測定可能です。計測対象光束径を約3mmφまで拡大、大発光面積のレーザ素子や大口径ファイバ等の半導体レーザ等のFFP計測・出射N.A.計測に対応できます。
当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、エンサークルドアンギュラーフラックス解析等の光パワー分布解析にも応用可能です。
製品の特長
- 高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HFを使用。
- 2段ビームサンプラーを搭載。出力～10Wクラス高出力レーザを計測適正光量まで減衰。
- ハイパワー計測用f-θレンズ光学系＋画像処理解析方式。測定も迅速で調整も容易。
- 測定対象光束径約3mmφ。広い発光面積のサンプルをカバーするワイドエリア設計。
- ワーキングディスタンス約4mmの長作動距離設計。
- 光検出器は1インチ高精度CMOS検出器 ISA061を使用（専用）。
- 解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013
- オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
- 光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard
- 当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。光パワー分布解析にも対応。
製品の主な応用
- 高出力レーザ・高出力レーザモジュールの放射角度分布（FFP）計測・解析
- LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発
- レーザプロジェクタや照明用途光モジュールの開発
- 生体認証用レーザモジュールの開発
- その他、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの放射角度分布（FFP）計測
製品の構成・コンポーネントセレクション
装置の構成図
コンポーネントセレクション
- 高出力レーザ用FFP計測光学系セレクション
- 高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF
- 850~940nm：高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF/NIR
- その他の計測波長に関してはご相談ください。
- 検出器
- 400~1100nm：1インチ高精度CMOS検出器 ISA061（専用）
- 光ビーム解析モジュール AP013
- データ処理装置本体、検出器ドライバ、光ビーム計測解析ソフトウエア Optometrics BA Standard、補正用データ
- 付属品
- 付属ケーブル類、マニュアル関連等