光計測装置 ハイパワーレーザ用NFP計測装置

装置の概要

ハイパワーレーザ用高機能光ビームNFP計測装置は、出力1~10Wクラス高出力レーザの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能なハイパワー専用光ビームプロファイラシステムです。

光学系は当社のハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系 M-Scope type HSを使用します。対物レンズ後段に2段のビームサンプラー(減光ユニット)を設置、対物レンズ倍率の選択と変更が可能です。また、スルー(対物レンズ無)の状態でコリメート光計測にも使用できます。

当社製各種可視域用光検出器・光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせにより、さまざまな高出力発光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や光ビームプロファイル計測・解析に使用することができます。

特長

  • ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系 M-Scope type HSを使用
    • 対物レンズ後段に専用2段ビームサンプラーを搭載。1W~10W出力クラス高出力青色レーザを計測に適した光量まで減衰。
    • NFP計測・FFP計測を単一光学系により同時に測定可能。
  • 当社製光ビーム解析モジュールAP013との併用により、高出力レーザのNFP・FFP同時計測システムの構築が容易に可能。
  • 同軸落射照明装置(オプション)を装着可能。同軸落射照明による顕微鏡画像観察が可能。ピント合わせが容易。
  • 測定可能波長域は、400-450nm帯用(他の波長帯に関してはご相談ください)。
  • 解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013。高出力レーザのNFP・FFP同時計測システムの構築が容易に可能。
    • オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
    • 光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard
    • 当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。光パワー分布解析にも対応。

応用

  • 高出力レーザ・高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析
    • LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発
    • レーザプロジェクタや照明用途光モジュールの開発
    • 生体認証用レーザモジュールの開発
    • その他、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析

コンポーネントセレクションと装置構成

装置のブロックダイアグラム

主要構成品

オプション

  • 対物レンズ(M-Plan Apo NUVシリーズ、M-Plan Apo NIRシリーズ)
    • 対物レンズはこちらをご参照ください。
  • 30φへ減光フィルタ(NDフィルタ)
    • 400-450nm帯用:NDF VIS30-5
    • 850/940nm帯用:NDF NIR30-5
  • 同軸落射照明装置
    • 同軸落射照明装置はこちらをご参照ください。
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
      • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。

関連製品情報

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