製品の概要
光テスター/光配線導波路高速導通検査装置
光テスターの計測方式
光テスターによるポリマー光配線導波路の量産高速導通検査
製品の特長
- 測定光一括励振と高速画像処理による無調芯・高速導通検査
- 測定光一括励振光源ユニット・高N.A.検出光学系・高速画像処理アルゴリズムにより、量産検査にも対応可能な高速・高精度・高再現性高速導通・相対損失測定
- 専用ソフトウエアにより光導波路の導波伝搬信号のみを抽出・処理・判定
- 電動ステージとの組み合わせによるデフォーカス測定モード・測定の自動化にも対応
製品の主な応用
- ポリマー光配線導波路の量産検査(相対損失測定・導通のOK/NG判定等)
- ポリマー光配線導波路のコアピッチ・コア位置の量産検査
- ポリマー光配線導波路内蔵45度ミラーの傾き計測
主な測定項目
- 導通測定:各チャンネルの導通を高速にOK/NG判定
- 相対損失値の測定:リファレンスサンプルとの比較による相対損失値の測定
- コア位置測定:コアの輝度重心等からコア位置を測定
- コアピッチ計測:コアの輝度重心等からコアピッチを測定
- デフォーカス測定:仮想PD位置等デフォーカス位置での相対輝度値測定
- 45度ミラー傾き測定:デフォーカス測定との組み合わせによる傾き測定
製品の構成・コンポーネントセレクション
装置の構成図
装置の主な構成品
- 測定用光源・光源照射用光学ユニット部
- 測定光源:850nmLED光源ユニット(光源・コントローラ)
- 測定光広域一括均一励振光学ユニット
- 光学系位置調整用ステージシステム
- 検出部
- サンプルステージ部
- サンプルホルダ
- サンプル位置調整用ステージシステム
- 装置電装制御システム部
- データ処理・システム制御用コンピュータ
- オペレーション用PCモニタ
- 光テスター用データ解析・システム制御・データ処理管理用統合ソフトウエア
- 電動ステージ制御部
- 装置制御部
- 集中電源装置
- 安全対策装備
- 周辺機器・付帯設備
- 装置カバー付防振台
- システムラック
- その他付帯設備
- 光テスターは、完全カスタム仕様製品です。お客様のご要求仕様に合わせたシステム構成・ステージ選定・ソフトウエア処理をご提案します。
製品の主な仕様
装置各部の主な仕様
広域一括均一励振光源ユニット |
出射N.A. |
0.57 |
均一照射面サイズ |
約φ4mm(ギャップ 5mm) |
照射面内光量均一度 |
約±2% |
測定光源中心波長 |
850nm(波長半値幅:±40nm) |
最大出射光量 |
約15mW |
出射光量安定度 |
±1% |
専用高N.A.型計測光学系 |
受光N.A. |
0.4 |
計測実倍率 |
5倍(20倍対物レンズ使用時) |
実観察・計測視野 |
約1.41mm×1.05mm |
検出器(高精度CMOS検出器 ISA071) |
有効画素数 |
2048×1536画素(約320万画素) |
ピクセルピッチ |
3.45×3.45μm角 |
素子サイズ |
1/1.8インチ |
諧調 |
12bit |