光計測用光学機器と光計測システムのシナジーオプトシステムズ

装置の概要 FFP(ファーフィールドパターン)計測装置

FFP(ファーフィールドパターン)計測装置は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール等のFFP(ファーフィールドパターン:遠視野像)を計測する装置です。

光学系は当社のFFP計測光学系 M-Scope type Fを使用、当社製各種光検出器・光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせにより、さまざまな光デバイスのFFP計測・放射角度分布計測・出射N.A.計測・解析に使用することができます。

光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯までさまざまなシステム構築が可能です。

特長

  • FFP計測光学系 M-Scope type Fを使用
    • 専用光学系+画像処理解析方式。測定も迅速で調整も容易。
    • ワーキングディスタンス約6mmの長作動距離設計。
  • 光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能
  • 解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013
    • オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
    • 光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard
      • 当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。EF/EAF計測機能にも対応。

応用

  • 各種光デバイス・光モジュールのFFP計測・解析
    • 半導体レーザ、光ファイバ、光導波路、光モジュールのFFP解析
  • 各種光デバイス・光コンポネントのN.A.計測・解析
    • 光ファイバ、光配線導波路、バタフライモジュール等のN.A.解析
  • マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス解析

コンポーネントセレクションと装置構成例

装置のブロックダイアグラム

装置の主な構成品

オプション

  • NDフィルタ
    • NDフィルタはこちらをご参照ください。
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
      • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。

関連装置の情報

追加情報

カタログダウンロード