光計測用高機能光学系・光計測システムソリューション

光応用計測・検査装置　汎用光ビームプロファイル計測システム

FFP計測装置

製品の概要
FFP計測装置

mscopetypes

FFP（ファーフィールドパターン）計測装置は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール等のFFP（ファーフィールドパターン：遠視野像）を計測する装置です。

光学系は当社のFFP計測光学系　M-Scope type Fを使用、当社製各種光検出器・光ビーム解析モジュール　AP013との組み合わせにより、さまざまな光デバイスのFFP計測・放射角度分布計測・出射N.A.計測・解析に使用することができます。

光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯までさまざまなシステム構築が可能です。

製品の特長

  • FFP計測光学系　M-Scope type Fを使用
    • 専用光学系＋画像処理解析方式。調整も容易、全角度のFFPを迅速に解析可能。
    • ワーキングディスタンス約6mmの長作動距離設計。
    • ARコートにより可視域用・近赤外域用の2機種を準備。
      • 近赤外域用（650~1700nm帯ARコート品）：M-Scope type F
      • 可視域用（400~650nm帯ARコート品）：M-Scope type F/BL
  • 光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能
  • 解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール　AP013
    • オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
    • 光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア　Optimetrics BA Standard
      • 当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。EF/EAF計測機能にも対応。

製品の主な応用

  • 各種光デバイス・光モジュールのFFP計測・解析
    • 半導体レーザ、光ファイバ、光導波路、光モジュールのFFP解析
  • 各種光デバイス・光コンポネントのN.A.計測・解析
    • 光ファイバ、光配線導波路、バタフライモジュール等のN.A.解析
  • マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス解析

製品の構成・コンポーネントセレクション

装置の構成図
コンポーネントセレクション
オプション・アクセサリ　セレクション
  • NDフィルタ
    • 可視用（400~700nm）：NDF-5
    • 近赤外用（700nm~1100nm）：NDF NIR-5
    • 赤外用（1310nm~1550nm）：NDF IR-5
      • NDフィルタはこちらをご参照ください。
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
      • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。

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  • その他さまざまな目的・用途に対応した光計測用光学系・光学計測装置を各種取り揃えております。

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