光計測装置 ハイパワーレーザ用NFP計測装置

装置の概要

ハイパワーレーザ用NFP/FFP同時計測装置は、出力1~10Wクラス高出力青色レーザのNFP計測とFFP計測を同一光学系にて行うことが可能な光学計測システムです。

光学系は当社のハイパワーレーザ用NFP・FFP同時計測光学系 M-Scope type HDを使用します。対物レンズ後段に2段のビームサンプラー(減光ユニット)を配置、入射光の減光を行います。減光されたビームは、光学系後段に設置されたNFP計測ポート、FFP計測ポートに分岐され、おのおののポートに装着された高精度デジタルCCD検出器 ISA011で画像化されます。高精度デジタルCCD検出器 ISA011からの出力画像は、光ビーム解析モジュール AP013によって画像処理・解析が行われます。

このように、ハイパワーレーザ用NFP・FFP同時計測光学系 M-Scope type HD・当社製可視域用光検出器・光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせにより、高出力青色発光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や放射角度分布計測・解析に使用することができます。

特長

  • ハイパワーレーザ用NFP・FFP同時計測光学系 M-Scope type HDを使用
    • 1W~10W出力クラスハイパワー青色レーザのNFP計測・FFP計測を単一光学系により同時に測定可能。
    • 対物レンズ後段に専用2段ビームサンプラーを搭載。高出力レーザを計測に適した光量まで減衰。
  • 同軸落射照明装置(オプション)を装着可能。同軸落射照明による顕微鏡画像観察が可能。ピント合わせが容易。
  • 測定可能波長域は、400-460nm帯用に対応(他の波長域計測に関しては別途お問合せください)。
  • 解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013
    • オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
    • 光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard
    • 当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。光パワー分布解析にも対応。

応用

  • 青色高出力レーザ・青色高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やFFP(放射角度分布)計測・解析

コンポーネントセレクションと装置構成

装置のブロックダイアグラム

主要構成品

オプション

  • 対物レンズ(M-Plan Apo NUVシリーズ)
    • M-Plan Apo NUV 50倍(NFP・FFP同時計測時、固定倍率)
    • NFP計測用M-Plan Apo NUVシリーズ各種対物レンズ(ミツトヨ製)
    • 対物レンズはこちらをご参照ください。
  • 減光フィルタ(NDフィルタ、標準・φ25mm)
    • 400-450nm帯用:NDF VIS30-5
  • 同軸落射照明装置
    • 同軸落射照明装置はこちらをご参照ください。
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
      • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。

関連製品情報

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