光計測用高機能光学系・光計測システムソリューション

製品の特長

• 当社製偏光依存性対策型簡易型光計測用光学系　M-Scope type J/PFを搭載した、光学系方式挿入損失測定
• コア端面同軸観察用画像検出器を搭載。対象物を直接観察しながら測定光の入射・出射光の受光が容易に可能。
• 偏光依存性対策光ファイバ接続ポートを採用。偏光の影響をキャンセル。
• 対物レンズの交換・選択が可能。赤外用、高分解能対物レンズの選択が可能。
• 最大100倍の高倍率観察が可能。
• 赤外対物レンズ（NIRレンズ）・高倍率対物レンズ（HRレンズ）の選択が可能。
• コア端面観察の最大光学倍率は100倍
• 対物レンズの選択により、コア端面の観察倍率は、最大100倍を選択可能。シリコンフォトニクス導波路・シングルモード光導波路等微小コア光導波路の測定に対応。
• 光ファイバ調芯方式と共役条件での挿入損失測定
• 入射側は、光ファイバポートに接続した光ファイバのコア径を1：1でサンプル面に照射。
• 出射側は、光ファイバポートに接続した光ファイバのコア径相当径を1：1でサンプル面から光ファイバにリレー。
• 光ファイバ調芯方式と共役条件のため、さまざまな種類・コア径の光ファイバが使用可能。
• 光ファイバ調芯による損失測定の他、NFPやビームプロファイル計測・光スペクトラムアナライザや分光器との組み合わせによる波長計測も可能
• FFP計測光学系の増設によるFFP計測にも対応可能。
• 専用の画像処理・自動調芯ソフトウエアを準備。電動位置決めステージとの組み合わせにより、画像処理・自動調芯による高速・高再現性・高効率測定が可能。量産検査にも対応が可能。
• 電動位置決めステージ・画像処理ソフトウエアを併用することにより、超微細導波路デバイスの高速・自動測定を実現。量産検査にも対応が可能。