光計測用光学機器と光計測システムのシナジーオプトシステムズ

装置の概要 ワイドエリア型FFP(ファーフィールドパターン)計測装置

ワイドエリア型FFP(ファーフィールドパターン)計測装置は、計測対象光束径約3mmのワイドエリア型FFP光学系を使用した放射角度分布(ファーフィールドパターン)測定装置です。

専用設計のワイドエリア型FFP計測光学系 M-Scope type FWと2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、大面積発光素子や大口径光ファイバからの出射ビームの放射角度分布(FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。

当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、エンサークルドアンギュラーフラックス解析等の光パワー分布解析にも応用可能です。

特長

  • ワイドエリア型FFP計測光学系 M-Scope type FWを使用、広い光束径の測定をカバー。
    • f-θレンズ光学系+画像処理解析方式。測定も迅速で調整も容易。
    • 測定対象光束径約3mmφ。広い発光面積のサンプルをカバーするワイドエリア設計。
    • ワーキングディスタンス約4mm±0.4mmの長作動距離設計。
  • 光検出器は1インチ高精度CMOS検出器 ISA061を使用(専用)
  • 解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013
    • オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
    • 光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard
    • 当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。光パワー分布解析にも対応。

応用

  • 大発光面積レーザ素子やアレイ型レーザ素子のFFP計測 ・出射N.A.計測
  • 大口径光ファイバのFFP計測 ・出射N.A.計測
  • レンズ等の各種光学モジュールのFFP計測 ・N.A.計測

コンポーネントセレクションと装置構成例

装置のブロックダイアグラム

装置の主な構成品

オプション

  • 35φ減光フィルタ(NDフィルタ)
    • 850/940nm帯用:NDF NIR35-5
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
      • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。

関連装置の情報

追加情報

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