光応用計測・検査装置 汎用光ビームプロファイル計測システム
ワイドエリアFFP計測装置
製品の概要
ワイドエリアFFP計測装置
ワイドエリアFFP（ファーフィールドパターン）計測装置は、計測対象光束径約3ｍｍのワイドエリアFFP光学系 M-Scope type FWを使用した放射角度分布（ファーフィールドパターン）測定装置です。
専用設計のワイドエリアFFP計測光学系 M-Scope type FWと2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、大面積発光素子や大口径光ファイバからの出射ビームの放射角度分布（FFP:ファーフィールドパターン）をリアルタイムで取得・測定可能です。
当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、エンサークルドアンギュラーフラックス解析等の光パワー分布解析にも応用可能です。
製品の特長
- ワイドエリアFFP計測光学系 M-Scope type FWを使用、広い測定対象光束径をカバー。
- 専用設計のワイドエリア対応f-θレンズ光学系＋画像処理解析方式。全角度のFFPを迅速に解析可能。調整も容易。
- 測定対象光束径約3mmφ。広い発光面積のサンプルをカバーするワイドエリア設計。
- ワーキングディスタンス約4mm±0.4mmの長作動距離設計。
- 光検出器は1インチ高精度CMOS検出器 ISA061を使用（専用）
- 解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013
- オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
- 光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard
- 当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。光パワー分布解析にも対応。
製品の主な応用
- 大発光面積レーザ素子やアレイ型レーザ素子のFFP計測 ・出射N.A.計測
- 大口径光ファイバのFFP計測 ・出射N.A.計測
- レンズ等の各種光学モジュールのFFP計測 ・N.A.計測
製品の構成・コンポーネントセレクション
装置の構成図
コンポーネントセレクション
- ワイドエリア型FFP計測光学系 M-Scope type FW セレクション
- 650~1700nm用：ワイドエリア型FFP計測光学系 M-Scope type FW
- 400~650nm用：青色用ワイドエリアFFP計測光学系 M-Scope type FW/BL
- 検出器
- 400~1100nm：1インチ高精度CMOS検出器 ISA061
- 950~1700nm：VGA型InGaAs高感度近赤外検出器 ISA041VH
- 光ビーム解析モジュール AP013
- データ処理装置本体、検出器ドライバ、光ビーム計測解析ソフトウエア Optometrics BA Standard、補正用データ
- 付属品
- 付属ケーブル類、マニュアル関連等
オプション・アクセサリ セレクション
- 専用35φ減光フィルタ（NDフィルタ）
- 可視域用：NDF VIS35-5
- 700~1100nm帯用：NDF NIR35-5
- 1310~1550nm帯用：NDF IR35-5
- 光学系用架台
- 光ファイバ測定用光学系架台
- 縦型光学系設置架台
- 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。