光計測用高機能光学系・光計測システムソリューション

光計測用光学機器関連製品

FFP計測光学系 M-Scope type F

製品の概要
FFP計測光学系 M-Scope type F

mscopetypef

FFP計測光学系 M-Scope type Fは、光学系+画像処理方式による放射角度(FFP:ファーフィールドパターン)計測光学系です。専用光学系+2次元画像検出器により、リアルタイムで放射角度分布像の取得が可能です。

半導体レーザ等の各種発光デバイス、光ファイバや光導波路等の各種光デバイス・光モジュールのFFP計測や出射N.A.計測に応用可能です。

当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、SI型マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス解析にも応用可能です。

製品の特長

  • FFP測定専用光学系+画像処理方式によるFFP(ファーフィールドパターン)のリアルタイム計測が可能
  • 長作動距離設計。約6mmのワーキングディスタンスを確保
  • 検出器の選択により、400nmから1700nm波長域の光ビーム観察・光ビームプロファイル計測解析が可能
    • 画像センサセレクションは、こちらをご参照ください。
  • 当社製光ビーム解析モジュール AP013との併用により、エンサークルドアンギュラーフラックス解析に対応。

製品の主な応用

  • 半導体レーザや各種レーザデバイスのFFP計測 ・出射N.A.計測
  • 各種光ファイバのFFP計測 ・出射N.A.計測
  • シングルモード光導波路やSiフォトニクス光導波路出射光のFFP計測 ・出射N.A.計測
  • 光配線導波路のFFP計測 ・出射N.A.計測
  • 各種光モジュール・光学モジュールののFFP計測 ・出射N.A.計測
  • SI型マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス計測

製品の主な仕様

光学系本体の主な仕様
計測方式 専用光学系(f-θレンズ光学系)方式
測定対象光束径 約1mmφ
光学系セレクション
(計測波長帯による)
  • 計測波長 650-1700nm帯用 : M-Scope type F
  • 計測波長 400-650nm帯用 : M-Scope type F/BL
ワーキングディスタンス 約6mm±0.8mm
減光方式 フィルタポートへの減光フィルタ(NDフィルタ)挿入方式
(最大2枚まで同時挿入可能)
カメラマウント Cマウント
主な検出器セレクションと計測角度範囲・計測角度画素分解能
検出器品名 高精度CMOS検出器 InGaAs高感度近赤外検出器 InGaAs高分解能近赤外検出器
検出器型名 ISA071/ISA071GL ISA041H2 ISA041HRA
センサの感度波長域 400~1100nm 950~1700nm 400~1700nm
画素数 2048×1536画素 320×256画素 1280×1024画素
ピクセルピッチ 3.45μm角 20μm角 5μm角
撮像面積(フォーマット) 7.065mm×5.299mm (1/1.8") 6.4mm×5.12mm (1/2") 6.4mm×5.12mm(1/2")
計測角度範囲 約±40° 約±39.5° 約39.5°
計測角度画素分解能 約0.063° 約0.4° 約0.1°

FFP計測光学系の原理

左図で、サンプルからの入射角θの光束は、f-θレンズ・フィールドレンズ・リレーレンズを介して検出器の1点に結像されます。これは、サンプルから出射してf-θレンズに入射する光束の入射角θが検出器の結像位置情報に変換されていることを意味しています。このようにして、検出器上に結像された2次元のFFP画像を画像処理解析することにより、半導体レーザや光ファイバのリアルタイムFFP解析が可能になります。

製品の構成

標準構成品 FFP光計測光学系 M-Scope type F
  • 光学系本体(光学系本体・フィルタポート) 1式
  • 光学系保持固定用架台 1式
オプション

外観図面

外観図面 M-Scope type F
  • 本外観図面は参考図です。装着オプション・装着センサにより外観・寸法は変わります。詳細な外観図面は別途ご連絡、ご確認ください。

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