光計測用光学機器と光計測システムのシナジーオプトシステムズ

製品の概要
FFP計測光学系 M-Scope type F

FFP計測光学系 M-Scope type F

FFP計測光学系 M-Scope type Fは、光学系+画像処理方式による放射角度(FFP:ファーフィールドパターン)計測光学系です。専用光学系+2次元画像検出器により、リアルタイムで放射角度分布像の取得が可能です。

半導体レーザ等の各種発光デバイス、光ファイバや光導波路等の各種光デバイス・光モジュールのFFP計測や出射N.A.計測に応用可能です。

当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、SI型マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス解析にも応用可能です。

製品の特長

  • FFP測定専用光学系+画像処理方式によるFFP(ファーフィールドパターン)像のリアルタイム計測
  • 長作動距離設計により、ワーキングディスタンスは約6mm
  • 検出器の選択により、400nmから1700nm波長域の光ビーム観察・光ビームプロファイル計測解析が可能
    *光センサセレクションは、こちらをご参照ください。
  • 当社製光ビーム解析モジュール AP013との併用により、エンサークルドアンギュラーフラックス解析に対応。

製品の応用

  • 半導体レーザや各種レーザデバイスのFFP計測 ・出射N.A.計測
  • 各種光ファイバのFFP計測 ・出射N.A.計測
  • 光導波路のFFP計測 ・出射N.A.計測
  • 光配線導波路のFFP計測 ・出射N.A.計測
  • 各種光モジュール・光学モジュールののFFP計測 ・出射N.A.計測
  • SI型マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス計測

製品の主な仕様

計測方式 専用光学系(f-θレンズ光学系)方式  
測定対象光束径 約1mmφ  
光学系セレクション
(計測波長帯による)
  • 計測波長 650-1700nm帯用 : M-Scope type F
  • 計測波長 400-650nm帯用 : M-Scope type F/BL
 
ワーキングディスタンス 約6mm±0.8mm  
減光方式 フィルタポートへの減光フィルタ(NDフィルタ)挿入方式
(最大2枚まで同時挿入可能)
 
カメラマウント Cマウント  
計測角度範囲 使用センサ 計測角度範囲 計測波長対応域
ISA071,ISA071GL 約±40°/N.A. 0.65 400-1100nm
ISA041H2 約±39.5°/N.A. 0.65 950-1700nm
計測角度画素分解能 使用センサ 計測角度画素分解能 計測対応波長域
ISA071,ISA071GL 約0.063° 400-1100nm
ISA041H2 約0.4° 950-1700nm

*計測角度画素分解能:計測角度範囲と検出器のセンサピッチから計算される検出器1ピクセル相当の計測角度です。

FFP計測光学系の方式

左図において、サンプルからの入射角θの光束は、f-θレンズ・フィールドレンズ・リレーレンズを介して検出器の1点に結像されます。これは、サンプルから出射してf-θレンズに入射する光束の入射角θが検出器の結像位置情報に変換されていることを意味しています。このようにして、検出器上に結像された2次元のFFP画像を画像処理解析することにより、半導体レーザや光ファイバのリアルタイムFFP解析が可能になります。

製品の構成

標準構成品 FFP計測光学系 M-Scope type F (M-Scope type F/BL)

  • FFP計測光学系本体 1式
  • 光学系保持固定用架台 1式

オプション

外観図面

外観図面 M-Scope type F

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追加情報

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