光計測用光学機器関連製品
FFP計測光学系 M-Scope type F
製品の概要
FFP計測光学系 M-Scope type F
FFP計測光学系 M-Scope type Fは、光学系+画像処理方式による放射角度（FFP:ファーフィールドパターン）計測光学系です。専用光学系＋2次元画像検出器により、リアルタイムで放射角度分布像の取得が可能です。
半導体レーザ等の各種発光デバイス、光ファイバや光導波路等の各種光デバイス・光モジュールのFFP計測や出射N.A.計測に応用可能です。
当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、SI型マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス解析にも応用可能です。
製品の特長
- FFP測定専用光学系＋画像処理方式によるFFP（ファーフィールドパターン）のリアルタイム計測が可能
- 長作動距離設計。約６mmのワーキングディスタンスを確保
- 検出器の選択により、400nmから1700nm波長域の光ビーム観察・光ビームプロファイル計測解析が可能
- 画像センサセレクションは、こちらをご参照ください。
- 当社製光ビーム解析モジュール AP013との併用により、エンサークルドアンギュラーフラックス解析に対応。
製品の主な応用
- 半導体レーザや各種レーザデバイスのFFP計測 ・出射N.A.計測
- 各種光ファイバのFFP計測 ・出射N.A.計測
- シングルモード光導波路やSiフォトニクス光導波路出射光のFFP計測 ・出射N.A.計測
- 光配線導波路のFFP計測 ・出射N.A.計測
- 各種光モジュール・光学モジュールののFFP計測 ・出射N.A.計測
- SI型マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス計測
製品の主な仕様
光学系本体の主な仕様
| 計測方式 | 専用光学系（f-θレンズ光学系）方式 |
|---|---|
| 測定対象光束径 | 約1mmφ |
| 光学系セレクション （計測波長帯による） |
|
| ワーキングディスタンス | 約6mm±0.8mm |
| 減光方式 | フィルタポートへの減光フィルタ（NDフィルタ）挿入方式 （最大2枚まで同時挿入可能） |
| カメラマウント | Cマウント |
主な検出器セレクションと計測角度範囲・計測角度画素分解能
| 検出器品名 | 高精度CMOS検出器 | InGaAs高感度近赤外検出器 | InGaAs高分解能近赤外検出器 |
|---|---|---|---|
| 検出器型名 | ISA071/ISA071GL | ISA041H2 | ISA041HRA |
| センサの感度波長域 | 400~1100nm | 950~1700nm | 400~1700nm |
| 画素数 | 2048×1536画素 | 320×256画素 | 1280×1024画素 |
| ピクセルピッチ | 3.45μm角 | 20μm角 | 5μm角 |
| 撮像面積（フォーマット） | 7.065mm×5.299mm (1/1.8") | 6.4mm×5.12mm (1/2") | 6.4mm×5.12mm（1/2"） |
| 計測角度範囲 | 約±40° | 約±39.5° | 約39.5° |
| 計測角度画素分解能 | 約0.063° | 約0.4° | 約0.1° |
FFP計測光学系の原理
左図で、サンプルからの入射角θの光束は、f-θレンズ・フィールドレンズ・リレーレンズを介して検出器の1点に結像されます。これは、サンプルから出射してf-θレンズに入射する光束の入射角θが検出器の結像位置情報に変換されていることを意味しています。このようにして、検出器上に結像された2次元のFFP画像を画像処理解析することにより、半導体レーザや光ファイバのリアルタイムFFP解析が可能になります。
製品の構成
標準構成品 FFP光計測光学系 M-Scope type F
- 光学系本体（光学系本体・フィルタポート） 1式
- 光学系保持固定用架台 1式
オプション
外観図面
外観図面 M-Scope type F
- 本外観図面は参考図です。装着オプション・装着センサにより外観・寸法は変わります。詳細な外観図面は別途ご連絡、ご確認ください。