光計測用光学機器関連製品
ワイドエリアFFP計測光学系 M-Scope type FW
製品の概要
ワイドエリアFFP計測光学系 M-Scope type FW
ワイドエリア型FFP計測光学系 M-Scope type FWは、計測対象光束径約3mmφのFFP測定用光学系です。光学系+2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、発光デバイスや光ファイバ等からの出射ビームの放射角度（FFP:ファーフィールドパターン）をリアルタイムで取得・測定可能です。
計測対象光束径を約3mmφまで拡大することにより、大発光面積のレーザ素子やアレイ型発光素子、大口径ファイバ等のFFP計測・出射N.A.計測への対応が可能になりました。
当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、エンサークルドアンギュラーフラックス解析等の光パワー分布解析にも応用可能です。
製品の特長
- 計測対象光束径約3ｍｍφ、計測角度範囲約±43°の計測対象エリア拡大型FFP計測光学系
- FFP測定専用光学系＋画像処理方式によるFFP（ファーフィールドパターン）のリアルタイム計測
- 長作動距離設計。約4mmのワーキングディスタンスを確保
- 当社製光ビーム解析モジュール AP013との併用により、エンサークルドアンギュラーフラックス解析に対応。
製品の主な応用
- 大発光面積レーザ素子やアレイ型レーザ素子のFFP計測 ・出射N.A.計測
- 大口径光ファイバのFFP計測 ・出射N.A.計測
- レンズ等の各種光学モジュールのFFP計測 ・N.A.計測
製品の主な仕様
光学系本体の主な仕様
| 計測方式 | 専用光学系（f-θレンズ光学系）方式 |
|---|---|
| 測定対象光束径 | 約3mmφ |
| 光学系セレクション （計測波長帯による） |
|
| ワーキングディスタンス | 約4mm±0.4mm （設計値 約4.35mm±0.4mm） |
| 減光方式 | フィルタポートへの減光フィルタ（NDフィルタ）挿入方式 （専用φ35mmNDフィルタ、最大2枚まで同時挿入可能） |
| カメラマウント | Cマウント |
主な検出器セレクションと計測角度範囲・計測角度画素分解能
| 検出器品名 | 1インチ高精度CMOS検出器 | VGA型InGaAs高感度近赤外検出器 |
|---|---|---|
| 検出器型名 | ISA061 | ISA041VH |
| センサの感度波長域 | 400~1100nm | 950~1700nm |
| 画素数 | 2048×2048画素 | 640×512画素 |
| ピクセルピッチ | 5.5μm角 | 20μm角 |
| 撮像面積（フォーマット） | 11.264mm×11.264mm（1"相当） | 12.8mm×10.24mm（1"） |
| 計測角度範囲 | 約±43° | 約±43°(H)×±40°(V) |
| 計測角度画素分解能 | 約0.05° | 約0.4° |
FFP計測光学系の原理
左図で、サンプルからの入射角θの光束は、f-θレンズ・フィールドレンズ・リレーレンズを介して検出器の1点に結像されます。これは、サンプルから出射してf-θレンズに入射する光束の入射角θが検出器の結像位置情報に変換されていることを意味しています。このようにして、検出器上に結像された2次元のFFP画像を画像処理解析することにより、半導体レーザや光ファイバのリアルタイムFFP解析が可能になります。
製品の構成
標準構成品 ワイドエリアFFP光計測光学系 M-Scope type FW
- 光学系本体（光学系本体・フィルタポート） 1式
- 光学系保持固定用架台 1式
オプション
外観図面
外観図面 M-Scope type F
- 本外観図面は参考図です。装着オプション・装着センサにより外観・寸法は変わります。詳細な外観図面は別途ご連絡、ご確認ください。