光計測用光学機器と光計測システムのシナジーオプトシステムズ

製品の概要
ワイドエリア型FFP計測光学系 M-Scope type FW

FFP計測光学系 M-Scope type F

ワイドエリア型FFP計測光学系 M-Scope type FWは、計測対象光束径約3mmφのFFP測定用光学系です。光学系+2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、発光デバイスや光ファイバ等からの出射ビームの放射角度(FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。

計測対象光束径を約3mmφまで拡大することにより、大発光面積のレーザ素子やアレイ型発光素子、大口径ファイバ等のFFP計測・出射N.A.計測への対応が可能になりました。

当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、エンサークルドアンギュラーフラックス解析等の光パワー分布解析にも応用可能です。

製品の特長

  • 計測対象光束径約3mmφ、計測角度範囲約±43°の計測対象エリア拡大型FFP計測光学系
  • FFP測定専用光学系+画像処理方式によるFFP(ファーフィールドパターン)像のリアルタイム計測
  • 長作動距離設計により、ワーキングディスタンスは約4mm
  • 当社製光ビーム解析モジュール AP013との併用により、光強度分布解析・幅計測の他、エンサークルドアンギュラーフラックス解析等光パワー分布解析も可能。

製品の応用

  • 大発光面積レーザ素子やアレイ型レーザ素子のFFP計測 ・出射N.A.計測
  • 大口径光ファイバのFFP計測 ・出射N.A.計測
  • レンズ等の各種光学モジュールのFFP計測 ・N.A.計測

製品の主な仕様

計測方式 専用光学系(f-θレンズ光学系)方式  
測定対象光束径 約3mmφ  
光学系セレクション
(計測波長帯による)
  • 計測波長 650-1700nm帯用 : M-Scope type FW
  • 計測波長 400-650nm帯用 : M-Scope type FW/BL
  • *計測波長に関しては別途お問い合わせください。
 
ワーキングディスタンス 約4mm±0.4mm  
減光方式 フィルタポートへの減光フィルタ(NDフィルタ)挿入方式
(専用φ35mmNDフィルタ、最大2枚まで同時挿入可能)
 
カメラマウント Cマウント  
計測角度範囲 使用センサ 計測角度範囲 計測波長対応域
ISA061 約±43°/N.A. 0.68 400-1100nm
ISA041VH 約±43°(H)×±40°(V) 950-1700nm
計測角度画素分解能 使用センサ 計測角度画素分解能 計測対応波長域
ISA061 約0.05° 400-1100nm
ISA041VH 約0.167° 950-1700nm

*計測角度画素分解能:計測角度範囲と検出器のセンサピッチから計算される検出器1ピクセル相当の計測角度です。

製品の構成

標準構成品 ワイドエリア型FFP計測光学系 M-Scope type FW (またはM-Scope type FW/BL)

  • ワイドエリア型FFP計測光学系本体 1式
  • 光学系保持固定用架台 1式

対応検出器とオプション

  • 検出器
  • NDフィルタ
    • (可視域用、専用)φ35mmNDフィルタセット NDF 35-5
    • (近赤外域用、専用)φ35mmNDフィルタセット NDF NIR35-5
    • (赤外域用、専用)φ35mm赤外NDフィルタセット NDF IR35-5
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
      • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。

外観図面

外観図面 M-Scope type FW

本外観図面は参考図です。装着オプション・装着センサにより外観・寸法は変わります。詳細な外観図面は別途ご連絡、ご確認ください。

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追加情報

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