光計測用光学機器と光計測システムのシナジーオプトシステムズ

製品の概要 
ハイパワーレーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF

FFP計測光学系 M-Scope type F

ハイパワーレーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HFは、1~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布(ファーフィールドパターン)計測用光学系です。専用設計のハイパワーレーザ対応FFP計測光学系+2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布(FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。

計測対象光束径を約3mmφまで拡大、大発光面積のレーザ素子や大口径ファイバ等の半導体レーザ等のFFP計測・出射N.A.計測に対応できます。

当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、光パワー分布解析への応用も可能です。

 

製品の特長

  • 1W~10W出力クラスハイパワーレーザの放射角度分布(FFP)をリアルタイム測定
  • ビームサンプラー(対物レンズ後方2段)と減光フィルタの組合せにより高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰
  • 計測対象光束径約3mmφ、計測角度範囲約±43°の計測対象エリア拡大型
  • FFP測定専用光学系+画像処理方式によるFFP(ファーフィールドパターン)像のリアルタイム計測
  • 長作動距離設計により、ワーキングディスタンスは約4mm
  • 当社製光ビーム解析モジュール AP013との併用により、光強度分布解析・幅計測の他、光パワー分布解析も可能。

製品の応用

  • 高出力レーザ・高出力レーザモジュールの放射角度分布(FFP)計測・解析
  • LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発
  • 生体認証用レーザモジュールの開発
  • その他、医療用、ディスプレイ機器用、エレクトロニクス機器用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの放射角度分布(FFP)計測・解析

製品の主な仕様

計測方式 専用光学系(ハイパワーレーザ計測対応f-θレンズ光学系)方式  
測定対象入射パワー 1W~10W  
測定対象光束径 約3mmφ  
計測対応波長域 650-1100nm帯
*計測波長に関しては別途ご相談ください。
 
ワーキングディスタンス 約4mm±0.4mm(測定サンプルサイズに依存します)  
減光方式 フィルタポートへの減光フィルタ(NDフィルタ)挿入方式
(最大2枚まで同時挿入可能)
M-Scope type FW専用
φ35mmNDフィルタ
カメラマウント Cマウント  
対応検出器 使用検出器 1インチ高精度CMOS検出器 ISA061  
使用センサ 1インチプログレッシブスキャンCMOS素子  
有効画素数 2048画素×2048画素  
センサーピッチ 5.5×5.5μm  
諧調 12bit  
PC I/F Gigabit Ethernet(GigE Vision)  
計測角度画素分解能 計測角度範囲 約±43° ISA061使用時
角度画素分解能 約0.05° ISA061使用時

製品の構成

標準構成品 ハイパワーレーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF

  • ハイパワーレーザ用FFP計測光学系本体 1式
  • 光学系保持固定用架台 1式

対応検出器とオプション

  • 検出器
  • NDフィルタ
    • (専用)φ35mmNDフィルタセット NDF NIR35-5
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
      • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。

外観図面

外観図面 M-Scope type HF

関連製品情報

データ処理・解析装置

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