光計測用高機能光学系・光計測システムソリューション

光計測用光学機器関連製品

高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF

製品の概要
高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF

mscopetypehf

高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HFは、出力~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布(ファーフィールドパターン)計測用光学系です。専用設計の高出力レーザ計測対応FFP計測光学系+2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布(FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。

計測対象光束径を約3mmφまで拡大、大発光面積のレーザ素子や大口径ファイバ等の半導体レーザ等のFFP計測・出射N.A.計測に対応できます。

当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、光パワー分布解析への応用も可能です。

製品の特長

  • 出力~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布(FFP)をリアルタイム測定
  • レンズ後方2段ビームサンプラ―と減光フィルタの組合せにより高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰
  • 計測対象光束径約3mmφ、計測角度範囲約±43°の計測対象エリア拡大型
  • FFP測定専用光学系+画像処理方式によるFFP(ファーフィールドパターン)像のリアルタイム計測
  • 長作動距離設計。ワーキングディスタンスは約4mmを確保。
  • 当社製光ビーム解析モジュール AP013との併用により、光強度分布解析・幅計測の他、光パワー分布解析も可能。高出力レーザFFP計測システムの構築が容易に可能。

製品の主な応用

  • 高出力レーザ・高出力レーザモジュールの放射角度分布(FFP)計測・解析
  • LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発
  • 生体認証用レーザモジュールの開発
  • その他、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析

製品の主な仕様

光学系本体の主な仕様
計測方式 専用光学系(高出力レーザ計測対応f-θレンズ光学系)方式
測定対象入射パワー ~10W(応相談)
測定対象光束径 約3mmφ
計測対応波長域
  • M-Scope type HF/NIR:850nm~940nm
    • ビームサンプラによる減光を行う構造のため計測波長は限定されます。上記以外の計測波長に関しては別途ご相談ください。
ワーキングディスタンス 約4mm±0.4mm(設計値 約4.35mm±0.4mm、但し、測定サンプルサイズに依存します)
減光方式 フィルタポートへの減光フィルタ(NDフィルタ)挿入方式
( 専用 φ35mmNDフィルタ、最大2枚まで同時挿入可能)
カメラマウント Cマウント
対応する検出器と計測角度範囲・計測角度画素分解能
検出器品名 1インチ高精度CMOS検出器
検出器型名 ISA061
センサの感度波長域 400~1100nm
画素数 2048×2048画素
ピクセルピッチ 5.5μm角
撮像面積(フォーマット) 11.264mm×11.264mm(1"相当)
計測角度範囲 約±43°
計測角度画素分解能 約0.05°

製品の構成

標準構成品 高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF
  • 光学系本体 1式
  • 光学系保持固定用架台 1式
オプション
  • 検出器
  • NDフィルタ(M-Scope type HF専用35φNDフィルタ)
    • M-Scope type HF/NIR用:NDF NIR35-5(10%、5%、1%、0.1%、0.01% 5枚セット)
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
      • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。

外観図面

外観図面 M-Scope type S
  • 本外観図面は参考図です。装着オプション・装着センサにより外観・寸法は変わります。詳細な外観図面は別途ご連絡、ご確認ください。

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