光計測用光学機器関連製品
ワイドエリア拡張型FFP計測光学系 M-Scope type FSW
製品の概要
ワイドエリア拡張型FFP計測光学系 M-Scope type FSW
ワイドエリア拡張型FFP計測光学系 M-Scope type FSWは、計測対象光束径約4.24mmφのFFP測定用光学系です。光学系+2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、発光デバイスや光ファイバ等からの出射ビームの放射角度（FFP:ファーフィールドパターン）をリアルタイムで取得・測定可能です。
計測対象光束径を約4.24mmφまで拡張することにより、大発光面積レーザ素子やアレイ型発光素子等のFFP計測・出射N.A.計測への対応が可能になりました。
当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、エンサークルドアンギュラーフラックス解析等の光パワー分布解析にも応用可能です。
製品の特長
- 計測対象光束径約4.24ｍｍφ、計測角度範囲約±45°の計測対象光束エリア拡張型FFP計測光学系
- FFP測定専用光学系＋画像処理方式によるFFP（ファーフィールドパターン）のリアルタイム計測
- 長作動距離設計。約9mmのロングワーキングディスタンスを確保
- 当社製光ビーム解析モジュール AP013との併用により、エンサークルドアンギュラーフラックス解析に対応。
製品の主な応用
- 大発光面積レーザ素子やアレイ型レーザ素子のFFP計測 ・出射N.A.計測
- レンズ等の各種光学モジュールのFFP計測 ・N.A.計測
製品の主な仕様
光学系本体の主な仕様
| 計測方式 | 専用光学系（f-θレンズ光学系）方式 |
|---|---|
| 測定対象光束径 | 約4.24mmφ （3mm角） |
| 計測対象波長 | 計測対象波長 850-940nm帯 （上記以外の計測波長対応に関しては別途お問い合わせください。） |
| ワーキングディスタンス | 約9mm±0.4mm |
| 減光方式 | フィルタポートへの減光フィルタ（NDフィルタ）挿入方式 （専用φ60mm大型NDフィルタ、最大2枚まで同時挿入可能） |
| カメラマウント | CSマウント |
対応する検出器と計測角度範囲・計測角度画素分解能
| 検出器品名 | 1インチ高精度CMOS検出器 |
|---|---|
| 検出器型名 | ISA061 |
| センサの感度波長域 | 400~1100nm |
| 画素数 | 2048×2048画素 |
| ピクセルピッチ | 5.5μm角 |
| 撮像面積（フォーマット） | 11.264mm×11.264mm (1"相当) |
| 計測角度範囲 | 約±45°（N.A. 0.68） |
| 計測角度画素分解能 | 約0.046° |
FFP計測光学系の原理
左図で、サンプルからの入射角θの光束は、f-θレンズ・フィールドレンズ・リレーレンズを介して検出器の1点に結像されます。これは、サンプルから出射してf-θレンズに入射する光束の入射角θが検出器の結像位置情報に変換されていることを意味しています。このようにして、検出器上に結像された2次元のFFP画像を画像処理解析することにより、半導体レーザや光ファイバのリアルタイムFFP解析が可能になります。
製品の構成
標準構成品 ワイドエリア拡張型FFP光計測光学系 M-Scope type FSW
- 光学系本体（光学系本体・フィルタポート） 1式
- 光学系保持固定用架台 1式
オプション
- 検出器
- 計測波長域：可視域~1100nm
- M-Scope type FSW専用φ60mmNDフィルタ
- 近赤外域用：φ60mm大型NDフィルタセット（4枚セット） NDF NIR60-４
- 光学系用架台
- 光ファイバ測定用光学系架台
- 縦型光学系設置架台
- 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。
外観図面
外観図面 M-Scope type FSW
- 別途お問合せください。
カタログダウンロード
- 準備中