光計測検査システム製品 ヘッドライン

当社の光計測用光学系とソフトウエア・画像処理・精密位置決めステージ・光計測器を組合せた光計測・検査システムの製品ラインナップです。

当社製光計測用光学系 M-Scopeシリーズと各種検出器・データ解析モジュールの組合せによるさまざまな種類の光ビーム計測解析装置をラインナップしました。

また、専用用途光計測システムとしては、ポリマー光配線導波路の光導通やコア形状・コアピッチ等の量産検査が可能な光テスター/光配線板高速導通検査装置をはじめ、光配線導波路、光半導体デバイス・光モジュール・シリコンフォトニクス等の分野をターゲットとしたユニークなシステム製品群を取り揃えております。

その他、当社の光計測光学系・精密位置決めステージ・画像処理技術を駆使したさまざまな特注対応装置も提供が可能です。

光計測検査システム製品 NEWS&TOPICS

【NEW】
2016/4/1
【新製品】ハイパワーレーザ用光ビームNFP計測装置をリリース。ハイパワーレーザ用NFP計測光学系を使用した光学系+画像処理解析装置。レーザヘッドライト用や加工用・医療用等の高出力レーザやファイバレーザなどの高出力発光デバイスの光ビームプロファイル計測に応用が可能です。デモ評価も可能です。 ハイパワーレーザ用光ビームNFP計測装置
2015/10/10 PDFカタログのダウンロードを追加。各製品ページ、または営業・お問合せページのカタログダウンロードからもダウンロードが可能です。 カタログダウンロードはこちらから
2015/4/8 微細導波路用損失測定装置をリリース。Siフォトニクス導波路・近接光学素子等極微細構造を有する光導波路の損失を高速・高精度測定。光学方式と画像処理により、量産検査にも対応。 超微細導波路用・光学系方式光導波路挿入損失測定装置
2014/11/1 エンサークルドフラックス・アンギュラーフラックス計測法 国際規格化に関する情報
*エンサークルドフラックス計測法 IEC61280-1-4
*エンサークルドアンギュラーフラックス計測法 IEC61300-3053
EF/EAF測定装置
2014/4/8 ローダ・アンローダ機能搭載光テスタ(光配線板高速導通検査装置)をリリース。個片サンプルの自動ロード・アンロードが可能となり、量産検査効率が大幅に向上。 個片サンプルローダアンローダ機構搭載型光テスタ

光計測検査システム製品 製品ラインナップと概要

汎用光計測・検査システム

光ビームNFP計測装置 NFP測定光学系と画像処理方式による汎用型光ビームプロファイル計測装置。光デバイス・光モジュール・光コンポーネントデバイスのNFP計測・発光パターン計測に最適。
  • 半導体レーザNFP計測
  • 光ファイバの光ビームプロファイル計測
  • 各種光モジュールの組立調整や品質評価
光ビームFFP計測装置 FFP光学系と画像処理方式による放射角度分布(FFP:ファーフィールドパターン)計測装置。画像処理方式によるリアルタイム測定。光ファイバや光デバイスのFFP測定やN.A.計測に最適。
  • 発光素子や光ファイバ等の放射角度分布計測
  • 光ファイバや光導波路の出射N.A.計測
エンサークルドフラックス計測装置
エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置
マルチモード光ファイバのモード伝播パラメータを光学系+画像処理により高速に測定。NFP計測光学系との組み合わせによるエンサークルドフラックス(EF)測定、FFP計測光学系との組み合わせによるエンサークルドアンギュラーフラックス(EAF)測定に対応。
  • GI型マルチモード光ファイバ・光デバイスのエンサークルドフラックス計測
  • SI型マルチモード光ファイバ・光デバイスのエンサークルドアンギュラーフラックス計測
コリメート光計測装置 コリメート光の平行度を高分解能で計測。コリメートビーム観察の他、コリメータモジュールの品質評価、コリメートレンズの調整等に応用が可能。
  • コリメート光のビーム平行度計測
  • コリメータレンズモジュールの組立調整や品質評価
  • バタフライモジュールのコリメータレンズ調整や評価
NFP/FFP同時計測装置
NFP/コリメート光同時計測装置
NFP計測とFFP計測/コリメート光計測を同一筐体で実現。バタフライモジュールのレンズ位置調整に最適。
  • 光ファイバ・光導波路・光デバイスなどのNFP/FFP評価
  • コリメータモジュールの組立調整や品質評価
  • バタフライモジュールの組立調整や品質評価
(新製品)
ハイパワーレーザ用光ビームNFP計測装置
高出力レーザ対応のNFP計測・光ビームプロファイル計測・発光パターン観察システム。
  • レーザヘッドライト用、直接加工用、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析
  • その他、各種高出力レーザのビームプロファイル計測一般
光ビーム解析モジュール
AP013
レーザや光デバイス・モジュールの発光ビームパターン計測や、NFP/FFP/EF/EAF等の発光パラメータ計測を目的とした画像処理・解析用モジュール。解析装置・光ビーム計測解析ソフトウエア・カメラドライバ・各種補正データのセット。面倒な設定は不要で、検出器を接続して直ちに使用可能。
  • 光ビームNFP計測一般
  • 光ビームプロファイル計測一般
  • エンサークルドフラックス・エンサークルドアンギュラーフラックス計測

専用用途光計測検査システム

光テスター/光配線導波路高速導通検査装置 多チャンネルポリマー光配線導波路の導通を高速・高精度に測定。ポリマー光配線導波路の量産検査に対応した高速導通検査装置。
  • ポリマー光導波路の導通検査(リファレンス導波路との比較による相対損失測定方式)
  • ポリマー光導波路のコア位置・外形形状等の計測
個片サンプルローダ・アンローダ機能付
光テスター/光配線導波路高速導通検査装置
ポリマー光導波路個片サンプルの自動ローダ・アンローダを搭載した光配線高速導通検査装置。個片サンプルのサンプル給排を自動化し、量産検査を可能に。
  • 個片ポリマー光導波路の量産導通検査(リファレンス導波路との比較による相対損失測定方式)
  • 個片ポリマー光導波路のコア位置・外形形状等の計測
光学系方式
光導波路挿入損失測定装置
光照射・受光計測光学系により、被測定導波路の入射・出射端面を画像観察により位置合わせしながら、測定光を直接コアに入射・受光、光導波路の挿入損失を簡単迅速に測定可能。
  • ポリマー光導波路の挿入損失測定

超微細導波路用・光学系方式光導波路挿入損失測定装置

Siフォトニクス導波路・近接光学素子等サブミクロンの構造・コア径を持つ光導波路の損失を高速・高精度測定。光照射・受光計測光学系と画像処理・電動ステージ制御により、量産検査にも対応可能。
  • SIフォトニクス導波路・近接光学素子の挿入損失測定
プローバ搭載型
ウエハレベル光素子光学特性測定装置
ウエハ状態で、受光素子(フォトダイオード、照度センサ等)や発光素子(VCSEL、LED等)の光学特性を測定。各種プローバシステムとの組み合わせにより、ウエハレベルでの光学特性測定が可能。また、セミオートプローバとの組み合わせにより、測定の自動化・効率化が可能に。
  • ウエハ状態受光素子の光入射による光学特性測定
  • ウエハ状態の発光素子の発光光学特性測定