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製品の概要 EF(エンサークルドフラックス)/EAF(エンサークルドアンギュラーフラックス)計測装置

写真:EF(エンサークルドフラックス)計測装置

EF(エンサークルドフラックス)/EAF(エンサークルドアンギュラーフラックス)計測装置は 、光ファイバ端面のNFP画像(ニアフィールドパターン:近視野像)、FFP画像(ファーフィールドパターン:遠視野像)を画像処理・解析し、GI型/SI型マルチモード光ファイバのモード伝播状態を光学的に計測・解析する装置です。

光学系は、当社製NFP計測光学系 M-Scope type S(EF計測用)、FFP計測光学系MScope type F(EAF計測用)を使用、2次元画像検出器および当社製EF/EAF測定機能付光ビーム解析モジュール AP013との組合せによりEF/EAF計測を迅速・簡単に実行できます。

EF/EAF測定

EF(エンサークルドフラックス)/EAF(エンサークルドアンギュラーフラックス)計測

マルチモード光ファイバの損失は、励振状態により変化するため、測定時の励振状態を規定する必要があります。その励振状態を定義する新しい測定方法として、EF(エンサークルドフラックス)/EAF(エンサークルドアンギュラーフラックス)が使用されます。特に、高速なマルチモード光ファイバ伝送ではEF/EAFが重要な役割をはたしています。

EF(エンサークルドフラックス)計測

EF(エンサークルドフラックス)とは、光ファイバ端面の光強度分布を中心から外周部に向かって積分した値で、光モード分布が全体の光強度に対して、中心から半径rまでのどの範囲にどの程度の割合が存在するかを示す指標であり、左図および式、および下記のグラフで示されます。

EF計測は、NFP計測光学系を使用して取得した光ファイバ端面のNFP画像をもとに解析を行います(装置構成は下記をご参照ください)。

EAF(エンサークルドアンギュラーフラックス)計測

エンサークルドフラックスが、光ファイバの端面の強度分布を規定した測定法であるのに対し、エンサークルドアンギュラーフラックスは光ファイバ端面からの出射角度の強度分布を、中心から出射角度拡がり方向(N.A.)に向かって積分した値です。EAF計測は、FFP計測光学系を使用して取得した光ファイバ出射光のFFP画像をもとに解析を行います(装置構成は下記をご参照ください)。

EF/EAF計測と被測定光ファイバ

一般的に、EF(エンサークルドフラックス)はGI型(グレーデッドインデックス型光ファイバ)、EAF(エンサークルドアンギュラーフラックス)はSI型(ステップインデックス型光ファイバ)の指標にされることが多いといえます。

測定規格について

10Gbps等の高速な伝送に対応するために、GI型マルチモード光ファイバの新しい励振条件の規定法としてエンサークルドフラックス測定法は、IEC SC86B 61280-1-4で規定されています。

一方、SI型マルチモード光ファイバに関しては、エンサークルドアンギュラーフラックス測定法が、IEC SC86B 61300-3-53-61300-1で規定されています。

特長

応用

  • GI(グレーデッドインデックス)型・SI(ステップインデックス)型マルチモード光ファイバのモード伝播特性評価
  • プラスチック光ファイバのモード伝播特性評価
  • ポリマー光導波路・光配線板のモード伝播特性評価

コンポーネントセレクションと装置構成

装置のブロックダイヤグラム

主要構成品

エンサークルドフラックス計測装置
エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置

オプション

EF/EAF測定機能付き光ビーム計測解析ソフトウエア Optometrics BA Standard
EF(エンサークルドフラックス)/EAF(エンサークルドアンギュラーフラックス)解析機能

当社の光ビーム計測解析ソフトウエア Optometrics BA Standardでは、エンサークルドフラックス(EF)・エンサークルドアンギュラーフラックス(EAF)解析機能を標準で搭載しています。

EF/EAF解析とグラフの表示機能の他、EF/EAFマスクの表示機能も付加しています。

解析したEF/EAFグラフはcsv形式で出力可能です。

追加情報

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