光計測用光学機器と光計測システムのシナジーオプトシステムズ

製品の概要

NFP/FFP同時観察計測装置は、NFP計測(近視野像観察)とFFP計測(遠視野像観察)を同一の光学系を用いて実現した装置です。従来、NFP計測とFFP計測は別々の専用光学系を用いて計測する必要がありました。当社製NFP/FFP同時計測光学系 M-Scope type Dを使用することで、光学系の交換をすることなくNFP/FFPの同時計測が可能となります。

また、NFP/コリメート光同時計測光学系 M-Scope type Eを使用することで、NFP計測とコリメート光計測を同時に行うことが可能です。各種LDモジュールのレンズ位置と傾きの調整や、バタフライモジュールの第一レンズ・第二レンズ実装調整等、さまざまな応用が可能です。

特長

  • NFP計測(近視野像観察)とFFP計測(遠視野像観察)を同一光学系で実現。
  • 専用光学系と画像処理によるリアルタイム計測
  • 光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能
  • 解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった 光ビーム解析モジュール AP013
    • オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
    • 光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard
      • 当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。
  • 高いシステム拡張性
    • 各種精密位置決めステージとの組み合わせによるシステムアップが可能。
    • 各種自動精密位置決めステージ・画像処理との組み合わせにより、調整工程の自動化にも対応可能。

応用

  • 各種光デバイス・光モジュールのNFP/FFP同時計測
  • 各種光導波路の出射端面NFPと放射角度分布(N.A.)の計測
  • バタフライモジュール第一レンズ(コリメータレンズ)・第二レンズ(集光レンズ)の実装調整やビーム品質の評価
  • その他

コンポーネントセレクションと装置構成

ブロックダイヤグラム

装置の基本構成

オプション

  • 対物レンズ(NFP/FFP同時計測時の対物レンズは50倍固定となります。)
    • 対物レンズのセレクションはこちらをご参照ください。
  • NDフィルタ
    • NDフィルタはこちらをご参照ください。
  • 同軸落射照明装置
    • 同軸落射照明装置はこちらをご参照ください。
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
    • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。
  • ソフトウエア:ご要求により、自動調整機能、自動計測機能等特注ソフトウエアの開発・実装が可能です。

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